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IC测试技艺NAND Tree确认管脚衔尾题目

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  本文将浅谈基于NAND Tree的芯片测试技术,主要是测试芯片的管脚I/O Pin和芯片的PAD之间的连接问题,将NAND门接入PAD和上级的NAND门输出,观察该Pin的跳变情况。

  今天讲一个很简单也很常用的IC测试技术-NAND Tree。这个技术主要用来测试芯片的管脚I/O Pin和芯片的PAD之间的连接是否有问题。测试的方法简单来说是:在所有的Pin和PAD连接中引入NAND门,NAND门的一端接PAD,另一端接上级的NAND门输出,从而将这些NAND门级联起来,最后通过一根output Pin输出。通过观察该Pin的跳变,确定有没有管脚连接问题。

IC测试技艺NAND Tree确认管脚衔尾题目

  图中所有的Pin,比如标号(1),(2),(3),(n)的Pin,在初始阶段都输入Low,这样NAND tree最后的输出就会是Low。

  然后将(1)Pin的输入调成HIGH,其余的输入Pin保持输入LOW,NAND tree的输出就会变成HIGH。

  如此,按照编号从小到大,直到把所有的Pin从LOW调成HIGH,你会看到NAND tree的输出呈现时钟脉冲一样的L-》H-》L-》H-》L的变化。这就说明芯片的Pin和PAD之间的连接没有问题。

  否则,连接有断开的地方,就会出现某个时刻点NAND tree的输出会保持恒LOW或者恒HIGH,不会因后续Pin节点的输入变HIGH而变化。

本站文章于2019-11-26 19:23,互联网采集,如有侵权请发邮件联系我们,我们在第一时间删除。 转载请注明:IC测试技艺NAND Tree确认管脚衔尾题目 集成电路IC

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